一(yi)、太原擺管淋(lin)雨試驗箱(xiang)好(hao)在哪里——技(ji)術參(can)數： 1.供(gong)水(shui)特性：恒壓供(gong)水(shui)，不依靠水(shui)箱(xiang)內(nei)的水(shui)位高低調節降水(shui)量，淋(lin)雨水(shui)壓：80～100KPa（可調節）。 2.噴水(shui)針孔(kong)徑(jing)：φ0.4mm。 3.供(gong)水(shui)系統：水(shui)

一(yi)、延安耐(nai)雨(yu)試(shi)驗(yan)箱(xiang)|淋雨(yu)試(shi)驗(yan)機|淋雨(yu)試(shi)驗(yan)設備結構特點: 1.噴(pen)嘴：根據試(shi)件的大(da)小，箱(xiang)體的內容(rong)積決定擺管的彎曲(qu)半(ban)徑(jing)(jing)。噴(pen)嘴為可折式專(zhuan)用噴(pen)嘴，噴(pen)孔可根據標(biao)準要求的孔徑(jing)(jing)隨時更換，可調節噴(pen)水方向，使射(she)出的水滴

濟(ji)南(nan)防(fang)塵(chen)試驗箱(xiang)用(yong)途(tu)： 防(fang)塵(chen)試驗箱(xiang)主要對電工、電子、汽車、摩托車及(ji)其他產品的零部件進(jin)行防(fang)塵(chen)試驗。

試(shi)驗程序及方法 通常,地面設備用的(de)(de)(de)電子元器(qi)件(jian)進行較低(di)等(deng)級(ji)的(de)(de)(de)試(shi)驗;航(hang)空電子設備用的(de)(de)(de)元器(qi)件(jian)進行較高等(deng)級(ji)的(de)(de)(de)試(shi)驗;而特殊要求的(de)(de)(de)產品則進行更高等(deng)級(ji)的(de)(de)(de)試(shi)驗。有關(guan)(guan)標準規(gui)定(ding)： ①低(di)溫按有關(guan)(guan)標準規(gui)定(ding)在(zai)低(di)溫等(deng)級(ji)表3. 2

溫(wen)(wen)度(du)循(xun)環(huan)試驗(yan)(yan) 溫(wen)(wen)度(du)循(xun)環(huan)試驗(yan)(yan)是模擬(ni)溫(wen)(wen)度(du)交替變化環(huan)境(jing)對電子(zi)元器件的機械(xie)性能及電氣(qi)性能影響的試驗(yan)(yan)。溫(wen)(wen)度(du)沖擊試驗(yan)(yan)與溫(wen)(wen)度(du)循(xun)環(huan)試驗(yan)(yan)無(wu)本質上的差別，只有(you)嚴酷程(cheng)度(du)上的差異。 電子(zi)產品在實際(ji)

試驗目(mu)(mu)的(de)(de) 高溫試驗的(de)(de)目(mu)(mu)的(de)(de)是(shi)考(kao)核高溫對電子元器(qi)件(jian)的(de)(de)影響，確(que)定電子元器(qi)件(jian)在高溫條件(jian)下工(gong)作和儲存(cun)的(de)(de)適應性。 試驗原理 有(you)嚴重缺陷的(de)(de)電子元器(qi)件(jian)處(chu)于非(fei)平(ping)(ping)衡態，這是(shi)一種不穩定態，由非(fei)平(ping)(ping)衡態向(xiang)平(ping)(ping)衡態的(de)(de)過渡過程(cheng)既是(shi)誘

溫度(du)(du)試驗(yan) 我(wo)國地域(yu)廣大(da)，決定了我(wo)們的電子元器(qi)件被使用的地域(yu)范圍很(hen)廣。寬廣的地域(yu)溫度(du)(du)及(ji)溫度(du)(du)變化的差別大(da)，因此必須進行(xing)電子元器(qi)件的溫度(du)(du)試驗(yan)。根據溫度(du)(du)環境的不同，溫度(du)(du)試驗(yan)包括(kuo)高溫試驗(yan)、低溫試驗(yan)、熱循環試驗(yan)、

試(shi)驗設(she)備 試(shi)驗設(she)備有沖(chong)擊臺(tai)(有時，可以用振動臺(tai)替(ti)代沖(chong)擊臺(tai)）和沖(chong)擊傳感(gan)器系(xi)統。沖(chong)擊臺(tai)提供該(gai)試(shi)驗所(suo)需的沖(chong)擊條(tiao)件,可以是(shi)沖(chong)擊力的持續時間、時間歷程、包絡線、峰值、沖(chong)擊曲線下(xia)的面積，

試(shi)(shi)驗(yan)(yan)程序該試(shi)(shi)驗(yan)(yan)的(de)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)程序為： ①按試(shi)(shi)驗(yan)(yan)任務書的(de)要求(qiu)(qiu)，選擇能滿足試(shi)(shi)驗(yan)(yan)振動條(tiao)件的(de)振動臺(tai)。. ②安裝(zhuang)固定試(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣品,相應(ying)的(de)電路系(xi)統及電信號測量(liang)系(xi)統也應(ying)固定好。 ③安裝(zhuang)好監控傳感器系(xi)統。 ④根據試(shi)(shi)驗(yan)(yan)要求(qiu)(qiu)，使振動

試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)程序該試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)的(de)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)程序為： ①根(gen)據(ju)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)任務書的(de)要(yao)求(qiu),選擇能滿足試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)要(yao)求(qiu)的(de)隨機振(zhen)(zhen)動條件的(de)振(zhen)(zhen)動臺。 ②安裝固定試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣品(pin)。 ③安裝好檢測(ce)及(ji)監控傳(chuan)感(gan)器系統(tong)。 ④根(gen)據(ju)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)要(yao)求(qiu)，使振(zhen)(zhen)動臺產生規定帶寬，規定強度的(de)